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​製作実績

集積回路測高検査装置2型

  • 4月26日
  • 読了時間: 1分

更新日:7月30日

自動ローディングされたJEDECトレー内ICの高さを計測する装置。計測後NG品自動排出。



【機械装置名】

集積回路測高検査装置2型


【概要】

自動ローディングされたJEDECトレー内に収納されているICの高さを計測する装置。計測後NG品自動排出。


【装置スペック・特徴】

■3D変位計KEYENCE WI-010 2台搭載。

■計測時間1枚0.35秒。

■トレー入れ替え0.5秒以内。

■JEDECトレー最大セット数40枚自動投入。

■NGワーク自動排出後、OKワーク自動投入




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